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Título : Conversores analógico-digitales de alta velocidad para sistemas de comunicaciones digitales
Autor(es) : Reyes, Benjamín Tomás
Director(es) : Mandolesi, Pablo Sergio
Co-director(es) : Gopinathan, Venugopal
Palabras clave : Ingeniería; Conversores A/D; CMOS; Comunicaciones digitales; Microelectrónica; Circuitos de alta velocidad
Fecha de publicación : 2015
Resumen : La nueva generación de sistemas de comunicaciones digitales demanda conversores analógico-digital (ADC) de muy alta velocidad que sólo pueden ser realizados en base una arquitectura paralela de conversores temporalmente intercalados (TI-ADC). Un TI-ADC consiste en un arreglo de M ADC en paralelo que son coordinados por M fases de reloj. Como resultado, se obtiene una tasa de frecuencia de muestreo global (Fs) igual a M veces la tasa de muestreo individual de cada ADC. Sin embargo, debido a los desapareamientos entre los transistores dentro de los circuitos integrados, los canales de los TI-ADC pueden mostrar diferencias en sus diversos parámetros esenciales (por ej. desajustes de offset, ganancia y fases de muestreo). Estos desajustes pueden ser detectados y calibrados, sin embargo, el desajuste entre las fases de muestreo presenta un gran desafío en su detección y por ello representa un tema abierto de investigación. En esta Tesis se propone una nueva técnica para la detección y calibración del desajuste entre las fases de muestreo en TI-ADC para receptores digitales de fibra óptica de 40/100 Gb/s. Además, la técnica propuesta puede detectar y corregir el desapareamiento de tiempo de propagación (time-skew) entre los canales en cuadratura (I/Q) que se presenta en los receptores ópticos coherentes. Asimismo, el método de ajuste puede extenderse a otros tipos de receptores digitales que utilicen TI-ADC. La técnica propuesta se demuestra efectiva y simple ya que evita el agregado de circuitos adicionales y aprovecha la información disponible dentro del procesador digital de señales del receptor. Por otro lado, el otro aporte fundamental de la Tesis es la verificación y demostración experimental del método de calibración para TI-ADC. Para ello se diseñó un chip de TI-ADC de 2 GS/s y 6-bits que implementa 8 canales temporalmente intercalados y un total de 16 conversores de aproximaciones sucesivas asíncronicos. El diseño incorpora múltiples capacidades de calibración, incluyendo celdas de retardo programable que permiten controlar las fases del conversor. El chip se fabricó en una tecnología CMOS de 0.13μm, siendo este el primer chip en ser diseñado y enviado a fabricar desde la FCEFyNUniversidad Nacional de Córdoba. Se realizaron las mediciones del conversor y el resto de los bloques, demostrando una correcta operación según sus especificaciones de diseño. A partir de este conversor prototipo se desarrolló una plataforma de hardware y software dedicada que permitió emular un sistema de comunicaciones para la verificación de la propuesta de calibración. Finalmente la Tesis presenta diferentes ejemplos experimentales de calibración, demostrando que la técnica puede mitigar correctamente los efectos de los desajustes entre fases del conversor sobre el desempeño del receptor.
The new generation of digital communications systems demand for very high-speed analog-to-digital converters (ADC) that can be only realized with parallel architectures like time-interleaved ADC (TI-ADC). A TI-ADC includes an array of M parallel ADCs that are managed by M clock phases. As a result, the overall sampling rate (Fs) is M times the rate of each individual ADC. However, due to mismatch between transistors in integrated circuits, the channels of a TI-ADC may show differences in their essential parameters (eg. offset, gain and sampling phase mismatches). These mismatches can be detected and calibrated, however, the sampling phase mismatch detection presents a great challenge and therefore, it is an open research topic. This Thesis proposes a novel technique for detection and calibration of sampling phase mismatch in TI-ADC used for digital receivers. The technique is specially suitable for 40/100 Gb/s fiber optic receivers. However the technique can be extended to any other digital receiver that requires TI-ADC phase calibration. In addition, the proposed technique can detect and correct the time-skew error between quadrature (I/Q) channels that is typically found in optical coherent receivers. The technique proves to be effective and simple as it avoids additional circuitry and it takes advantage of the information available in the receiver digital signal processor. On the other hand, the other main contribution of this Thesis is the experimental demonstration and verification of TI-ADC calibration method. For this propose, a 2 GS/s and 6-bits TI-ADC was designed. The chip consists of 8 interleaved channels and 16 asynchronous successive approximations registers ADC. The design also includes multiple calibration capabilities, including programmable delay cells that can control each phase independently. The chip was fabricated in a 0.13μm CMOS technology process and it was the first chip to be designed and sent for manufacture from FCEFyN-Universidad Nacional de Córdoba. Measurements of prototype have demonstrated a correct operation according to its specifications. Then, based on the prototype TI-ADC and a dedicated hard-soft platform, a communications system could be emulated for experimental calibration proposes. At the end of the Thesis, several experimental calibrations examples are showed. With these measurements it can be demonstrated that the calibration method can successfully mitigate the sampling phase mismatch effects over the receiver.
URI : http://repositoriodigital.uns.edu.ar/handle/123456789/2528
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